干膜厚度计，破坏性

干膜厚度计破坏性是什么意思?

干膜厚度计，破坏性是一种测量工具，用于通过切割和去除横截面来确定干膜厚度，使得涂层上的精确V沟或几何切割，然后用缩放的显微镜测量。横截面样品的实际厚度也可以通过千分尺测量。

一些破坏性的干膜厚度计具有特殊的V槽切割工具和照明放大镜，以提高制备破坏性测量样品的准确性。

腐蚀膜解释了干膜厚度计，破坏性

使用干膜厚度计，破坏性需要修复损坏的样本区域，但该方法在以下情况下被认为是适当的：

• 不可能或非可能使用的厚度测量的非破坏性测量方法或不能使用电子仪。
• 涂层覆盖在木材、塑料、混凝土或其他非磁性基材上，大多数非破坏性干膜厚度计不能使用这些基材。破坏性厚度测量方法适用于几乎所有基材上的涂层。
• 测量多层涂层中的各个涂层厚度。
• 要从非破坏性干膜厚度计验证或验证结果。

常用的破坏性测量方法描述如下:

• ASTM D4138，通过破坏性横截面装置测量保护涂层系统的干膜厚度的标准实践。
• ASTM D1005，使用微米测量有机涂层干膜厚度的标准试验方法，步骤D.

破坏性测量方法通常仅用为最后的手段。通过样品制备和测量读数的人类误差减少了其精度。